不同類(lèi)型二次元影像測(cè)量?jī)x的應(yīng)用

二次元影像測(cè)量?jī)x的誕生是在傳統(tǒng)數(shù)顯測(cè)量投影儀基礎(chǔ)上一次質(zhì)的飛躍，是測(cè)量投影儀的升級(jí)換代版。目前市面上的二次元影像測(cè)量?jī)x多種多樣，讓人眼花繚亂，但根據(jù)測(cè)量方式的劃分，只有兩種類(lèi)型：接觸式影像測(cè)量?jī)x和非接觸式影像測(cè)量?jī)x。

區(qū)分接觸式影像測(cè)量?jī)x和非接觸式影像測(cè)量?jī)x，就是從二次元影像測(cè)量?jī)x的測(cè)頭方面來(lái)區(qū)分的。二次元影像測(cè)量?jī)x在測(cè)量的過(guò)程中，測(cè)頭與被測(cè)工件的關(guān)系是區(qū)分二者的主要依據(jù)。接觸式影像測(cè)量?jī)x與非接觸式影像測(cè)量?jī)x由于工作原理不同，它們的應(yīng)用也有所差別。

接觸式影像測(cè)量?jī)x是針對(duì)機(jī)械業(yè)，是較大、較立體的工件，較硬的工件，需要3D組件的計(jì)算，可作3D坐標(biāo)系統(tǒng)，可同時(shí)量5個(gè)面，需較長(zhǎng)的學(xué)習(xí)時(shí)間，容易撞機(jī)，須有精密治具，二次元影像儀量測(cè)才會(huì)快，影像測(cè)量?jī)x一次只能量一個(gè)工件，要量曲線(xiàn)，需搭配掃描式探頭系統(tǒng)及軟件，誤差來(lái)源為二次元影像儀儀器及探頭系統(tǒng)，探針為耗材。

非接觸式影像測(cè)量?jī)x主要是針對(duì)電子業(yè)，需要放大量測(cè)的工件，是不可觸摸的工件，需要大量量測(cè)，影像測(cè)量?jī)x的坐標(biāo)系統(tǒng)的設(shè)定較容易，一次只能量一面，程序較容易寫(xiě)，不易撞機(jī)，大量檢測(cè)較快，可同時(shí)測(cè)量多個(gè)工件，曲線(xiàn)的量測(cè)容易。

不論是非接觸影像測(cè)量?jī)x還是接觸式影像測(cè)量?jī)x，都經(jīng)常被應(yīng)用到二維測(cè)量中。對(duì)于二維測(cè)量，二次元影像測(cè)量?jī)x有著其它檢測(cè)儀器所不能比擬的優(yōu)勢(shì)。

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