光學(xué)影像測(cè)量?jī)x與三次元測(cè)量?jī)x的區(qū)別

光學(xué)影像測(cè)量?jī)x與三次元測(cè)量?jī)x的不同之處，可以從測(cè)量范圍及測(cè)量方式來(lái)區(qū)分，通過(guò)對(duì)兩者的了解對(duì)選擇正確的測(cè)量機(jī)很重要。

1、兩者的測(cè)量范圍不同

光學(xué)影像測(cè)量?jī)x可分為二次元，2.5次元影像測(cè)量?jī)x，從字面不難理解，光學(xué)影像測(cè)量?jī)x主要進(jìn)行二維尺寸的測(cè)量，以及簡(jiǎn)單的測(cè)高。

三次元測(cè)量?jī)x，主要是指通過(guò)三維取點(diǎn)來(lái)進(jìn)行測(cè)量的一種儀器，市場(chǎng)上也有叫三坐標(biāo)，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，三維坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，三次元的。主要原理是：將被測(cè)物體置于三次元測(cè)量空間，可獲得被測(cè)物體上各測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)位置，根據(jù)這些點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計(jì)算求出被測(cè)物體的幾何尺寸，形狀和位置。

2、兩者的測(cè)量方式不同

光學(xué)影像測(cè)量?jī)x是一種非接觸的測(cè)量方式，由光學(xué)放大系統(tǒng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行放大，經(jīng)過(guò)CCD攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后，可高效地檢測(cè)各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制。

三次元測(cè)量?jī)x主要以接觸式測(cè)量為主，是通過(guò)探測(cè)傳感器（探頭）與測(cè)量空間軸線(xiàn)運(yùn)動(dòng)的配合，對(duì)被測(cè)幾何元素進(jìn)行離散的空間點(diǎn)位置的獲取，然后通過(guò)一定的數(shù)學(xué)計(jì)算，完成對(duì)所測(cè)得點(diǎn)（點(diǎn)群）的分析擬合，最終還原出被測(cè)的幾何元素，并在此基礎(chǔ)上計(jì)算其與理論值（名義值）之間的偏差，從而完成對(duì)被測(cè)零件的檢驗(yàn)工作。